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  • 场发射透射电镜
  • 作者:科研实验中心  编辑:庄筱红  来源:   浏览:; 时间:2023年12月11日 16:22
  • 名称:场发射透射电镜

    型号:日本电子株式会社(JEOL)    

    主要技术指标:

    TEM resolution (at 200 kV)
    Point image 0.19 nm
    Lattice image 0.1 nm
    STEM resolution (at 200 kV)
    Dark-field lattice image 0.14 nm*1
    Brightness (at 200 kV) 8×108A/cm2・sr or higher
    Degree of vacuum 1 × 10-8 Pa or less (at the bottom of the acceleration tube)
    TEM magnification (at 200 kV)
    MAG ×2000 to 2.0 M
    LOWMAG(OL OFF mode) ×20 to ×60 k
    SCAN magnification (at 200 kV)
    MAG ×20 k to 150 M
    LOW MAG(OL OFF mode) ×100 to 2.0 M
    Supported detectors STEM-DF, STEM-BF

    主要功能:

    TEM, HRTEM, STEM, SAED measurement for the mophorlogy and crystal structure of nanomaterials and bio-samples


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